Penkiakalbis aiškinamasis metrologijos terminų žodynas. – Vilnius: Mokslo ir enciklopedijų leidybos institutas. Vytautas Valiukėnas, Pranas Juozas Žilinskas. 2006.
Spectrometrie de masse a ionisation secondaire — Spectrométrie de masse à ionisation secondaire SIMS (Spectrométrie de masse à ionisation secondaire) Le procédé d analyse de surface connu sous le nom de SIMS, d après l acronyme anglais signifiant Secondary Ion Mass Spectrometry consiste à… … Wikipédia en Français
Spectrométrie de masse à ionisation secondaire — La spectrométrie de masse à ionisation secondaire est un procédé d analyse de surface connu sous le nom de SIMS, d après l acronyme anglais signifiant secondary ion mass spectrometry, qui consiste à bombarder la surface de l échantillon à… … Wikipédia en Français
Électron secondaire — Un électron secondaire est un électron arraché à la surface d un solide au cours d un processus d ionisation lui même produit par une interaction avec un autre rayonnement appelé alors « rayonnement primaire ». Ce rayonnement primaire… … Wikipédia en Français
Sekundärprobe — antrinė imtis statusas T sritis Standartizacija ir metrologija apibrėžtis Imtis, paimta iš pirminės imties antroje daugiapakopio ėmimo pakopoje. atitikmenys: angl. secondary sample vok. Sekundärprobe, f rus. вторичная выборка, f pranc.… … Penkiakalbis aiškinamasis metrologijos terminų žodynas
antrinė imtis — statusas T sritis Standartizacija ir metrologija apibrėžtis Imtis, paimta iš pirminės imties antroje daugiapakopio ėmimo pakopoje. atitikmenys: angl. secondary sample vok. Sekundärprobe, f rus. вторичная выборка, f pranc. échantillon secondaire,… … Penkiakalbis aiškinamasis metrologijos terminų žodynas
secondary sample — antrinė imtis statusas T sritis Standartizacija ir metrologija apibrėžtis Imtis, paimta iš pirminės imties antroje daugiapakopio ėmimo pakopoje. atitikmenys: angl. secondary sample vok. Sekundärprobe, f rus. вторичная выборка, f pranc.… … Penkiakalbis aiškinamasis metrologijos terminų žodynas
вторичная выборка — antrinė imtis statusas T sritis Standartizacija ir metrologija apibrėžtis Imtis, paimta iš pirminės imties antroje daugiapakopio ėmimo pakopoje. atitikmenys: angl. secondary sample vok. Sekundärprobe, f rus. вторичная выборка, f pranc.… … Penkiakalbis aiškinamasis metrologijos terminų žodynas
Fluorescence X — Spectrométrie de fluorescence X Pour les articles homonymes, voir SFX, FX et XRF. Un spectromètre de fluorescence X Philips PW1606 avec manutention automatiq … Wikipédia en Français
Spectrometrie de fluorescence X — Spectrométrie de fluorescence X Pour les articles homonymes, voir SFX, FX et XRF. Un spectromètre de fluorescence X Philips PW1606 avec manutention automatiq … Wikipédia en Français
Spectrométrie de fluorescence X — Pour les articles homonymes, voir SFX, FX et XRF. Un chimiste manipule un goniomètre manuel pour l analyse par spectrométrie de fluorescence X de monocristaux d échant … Wikipédia en Français
